X射線CT探傷技術(shù)的優(yōu)勢在于可以對產(chǎn)品的內(nèi)外結(jié)構(gòu)和尺寸進行無損測量，一次掃描即可同時完成產(chǎn)品的尺寸檢測與材料質(zhì)量控制，相比于傳統(tǒng)接觸式的或光學設(shè)備的難以探測內(nèi)部結(jié)構(gòu)的掃描方式，使用工業(yè)CT技術(shù)將是一個理想的解決方案。但是，由于工業(yè)ct檢測過程受很多復雜因素影響，目前為止對于工業(yè)CT設(shè)備的測量精度及置信度尚無法給出確切的回答，這也成為限制工業(yè)CT測量技術(shù)發(fā)展的瓶頸。

　　X射線CT測量誤差主要來源分析可以從以下幾個方面著手，尤其需要注意的是在利用高精度外部尺寸測量結(jié)果對工業(yè)CT數(shù)據(jù)進行校準時，尤其對于使用平板探測器的系統(tǒng)來說，需要校準的尺寸應包含樣品X-Y和X-Z兩個平面(即平行和垂直與探測器的平面)，工業(yè)CT數(shù)據(jù)在這兩個方向上單個像素尺寸往往并不相等，這取決于重建矩陣的選擇。故在工業(yè)CT掃描過程中，應盡量避免樣品放置時上下端面與射線平行，或者說應該盡量避免樣品上下端面垂直于旋轉(zhuǎn)軸，否則導致樣品上下端面應采樣不足，帶來SDK重建為引，消除因采樣不足導致的重建為引可以通過改變樣品的放置方式來解決，例如以15度放置。
 

　　從投影重建圖像過程中，最主要的影響因素來自于射線硬化及射線散射帶來的圖像，硬化和散射偽影，導致圖像灰度分布，偏離真實分布，給后續(xù)測量及閾值風格帶來困難，這些偽影如果不經(jīng)過適當?shù)男Ｕ瑫е聹y量的可靠性降低。

　　一般來說減弱射線硬化影響，可以通過在采集數(shù)據(jù)時放置前置濾波板來調(diào)節(jié)，也可以通過后續(xù)硬化校正算法來改善。

　　雖然硬化、散射偽影和FDK重建偽影導致DR實時成像設(shè)備工業(yè)CT的圖像灰度分布偏離真實的分布給后續(xù)的測量及閾值分割帶的困難，但是，我們通過專業(yè)軟件和提高算法進行校正，會減少誤差，將工業(yè)CT的測量精度提高，在可接受的范圍內(nèi)。

　　數(shù)據(jù)處理過程中影響工業(yè)電視測量的主要因素有邊界閾值的選擇。例如工業(yè)CT重建之后獲得物體的三維模型，在這一數(shù)據(jù)進行測量之前，首先需要選擇適當?shù)挠蛑邓惴▉矸指畈牧吓c空氣或不同材料之間的邊界，也就是所謂的邊緣檢測過程，傳統(tǒng)的閾值算法可能不夠精確，現(xiàn)在我們將通過改進算法，例如使用基于實際表面的邊緣檢測算法，或通過搜索圖像法的方向像素變化能提高邊緣檢測的精度。